深圳市普云電子有限公司PY-E516系列兩三廂式冷熱沖擊試驗機，又名冷熱沖擊測試箱，高低溫沖擊試驗箱 ，冷熱循環(huán)沖擊試驗箱Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；

冷熱沖擊試驗機是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)常見的測試設(shè)備， 用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)ji高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標準為：GB/T2423.1-2008試驗A 、GB/T2423.2-2008試驗B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。

深圳市普云電子有限公司出品的PY-E516系列高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產(chǎn)品（整機）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗?zāi)軌蛄私庠囼灅悠芬淮位蜻B續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù) :

PY-E516系列冷熱沖擊測試箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標準:
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

深圳市普云電子有限公司PY-E516系列兩三廂式冷熱沖擊試驗機的使用注意事項：

1.于操作當中，除非有絕對必要，請不要打開箱門，否則可能導(dǎo)致下列不良的后果。

.高溫?zé)釟鉀_出箱外十分危險。

.箱門內(nèi)側(cè)仍然保持高溫造成燙傷。

.高溫空氣可能觸發(fā)火災(zāi)警報，產(chǎn)生誤動作。

2.請注意本機必須安全確實接地，以免產(chǎn)生靜電感應(yīng)。

3.避免于三分鐘內(nèi)關(guān)閉再開啟冷凍機組。

4.如果箱內(nèi)放置發(fā)熱試料時，試料電源控制請使用外加電源，不要直接使用本機電源。

5.無熔絲開關(guān)(電路斷路器)、溫度超溫保護器，提供本機測試品以及操作者的安全保護，故請定期檢查。

6.絕對禁止試驗爆炸性，可燃性及高腐蝕性物質(zhì)。

7.請詳閱說明書后，方可操作本機。